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光电子元器件常见的可靠性试验项目有哪些

分类：检测报告时间：2025-08-09 00:26 浏览：87

概述：

光电子元器件可靠性试验是通过一系列标准化的测试方法，对光电子元器件在不同环境条件和使用场景下的性能和寿命进行评估的过程。以下是一些常见的可靠性试验项目。一、温度试验 1、高温试验：测试元器件在高温环境下的性能和稳定性。 2、低温试验：评估元器件在低温条件下的工作能力。 3、温度循环试验：模拟元器件在温度变

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